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半球发射率测量仪

半球发射率测量仪

更新时间:2021-07-29

访问量:132

厂商性质:代理商

生产地址:美国

简要描述:
美国D&S公司生产的AE1/RD1半球发射率测量仪是专门针对测量物体的发射率而设计的,具有如下优点:
.重复性:士0.01
.操作简单:探测器采用电加热设计,无须加热样品,也不需要测量
温度。
.快速测量:预热约30分钟,每1.5分钟测量一次发射率。
  半球发射率测量仪测量材料的总半球发射率,测量仪仅对辐射热传输响应,并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RDl是AEl发射率仪读数器,RDl通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致,当AEl测量待测样品时,RDl就能直接读出发射率。
  
  把半球发射率测量仪放在高发射率标准体(近似黑体)上,设定RDl来表示发射率标准参数;然后仪器就会根据这个标准,计算并直接读出RDl上该被测目标的发射率。
  
  AEl测量样品最小直径为2.25英寸(5.7cm)。可选附件AE?ADl和AE-AD3测量头,能测量样品的最小直径为1.0英寸(2.54cm)。还可以定制探头,测量圆柱形表面和几乎任何几何形状表面。对于小直径 圆柱形样品的测量,可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头,请来电垂询价格!
 

 

  发射率通过两个步骤获取:
  1、把辐射计放在高发射率标准体上,设定RDl来显示发射率;
  2、把辐射计放在待测样品上并直接读出RDl上的发射率。
  
  差热电堆式辐射能探头:可产生千温度呈比例关系的输出电压。
  读数模块:D&S微型数字伏特计,型号RDl。
  输出:2.4毫伏(当材料发射率为0.9,材料温度为25°C时)。 
  线性关系:该测量仪输出和发射率成线性关系,偏差小千土0.01。
  测量时间:10s。
  热沉:用千放置试板和标准板,导热良好,能使试板和标准板温度稳定—致。
  样品温度:最大130°F。样品温度和标准体温度必须—致。
  漂移:输出值可能随着外界环境的变化而改变,但是这些影响在本仪器这么短的检测时间内可以忽略。
  标准体:随机提供两个高发射率标准体和两个低发射率标准体。其中—套标准体可以用来测量时使用,另—套标准体备用并作为参考。
  电源:通用交流电源适配器100-240V,50-60Hz,12V直流输出。

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