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主营产品:IMPAC红外测温仪,MIKORN红外热像仪,INFRAMET黑体校准源,DS发射率测量仪

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专为测量硅片温度而开发的数字式红外测温仪

专为测量硅片温度而开发的数字式红外测温仪

更新时间:2021-07-16

访问量:288

厂商性质:代理商

生产地址:上海

简要描述:
专为测量硅片温度而开发的数字式红外测温仪IMPAC IS 12-Si测温仪,350-1800° C 之间的4种测温范围,近红外窄波, 测量硅材料波段.

专为测量硅片温度而开发的数字式红外测温仪IMPAC IS 12-Si测温仪详细介绍

德国*!制造商:IMPAC,隶属LumaSense集团。数字式测温仪,用于非接触式测量350以上的硅片温度。

主要优势:

● 用于测量硅片

● 350-1800° C 之间的4种测温范围

● 光谱范围:近红外窄带,特别用于硅的测量

● 6个固定镜头和3个调焦镜头

● 响应时间10毫秒,可调节到10

简要描述:

IMPAC IS 12-Si是IMPAC IS 12的一个特殊型号,是专为测量硅片温度而开发的。

该测温仪配备了一个近红外窄带滤光器。可靠地测量350°C以上的薄硅片,对于红外辐射来说,低于该温度,这一薄硅片就是透明的了。

在这个特殊的光谱范围内,硅的辐射率为67%,且不受温度影响。这就使IS 12-Si能够检测出硅片的正确温度。

在温度范围内测量开始时,IMPAC IS 12-Si对光是很敏感的。这个敏感度随着温度的增加而减弱。在温度范围开始时需要低温的应用情况下,这一效果可通过筛选光线来得以避免。

专为测量硅片温度而开发的数字式红外测温仪​IMPAC IS 12-Si测温仪技术参数

测温范围

400...900°C

400...1300°C

350...1000°C

500...1800°C

 

测温次区间:

测温范围内任意可设置小跨度 51°C

测量波段:

近红外窄波测量硅材料波段

信号处理:

光信号立即数字化

精度:

测量值的0.3%+ 1°C

重复精度:

测量值的0.1%+ 1°C

分辨率:

接口和数显: 0.1°C, 模拟输出: < 温度范围的 0.025 %

响应时间 t90:

< 10 ms 可调为 10 s

发射率 ε:

0.100 ... 1.000 调幅 1/1000

模拟输出:

线性 0 ... 20 mA  4 ... 20 mA, 直流

数字接口:

RS232  RS485 可切换

瞄准方式:

内置取景器附带激光瞄准

防护等级:

IP65 (DIN 40050)

环境温度:

0...70°C

存放温度:

-20...70°C

相对湿度:

无冷凝

参数设置:

仪器本机上可进行参数设置测温数据显示

CE-标志:

符合欧盟相关标准

 

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