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主营产品:IMPAC红外测温仪,MIKORN红外热像仪,INFRAMET黑体校准源,DS发射率测量仪
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    DS发射率测量仪新到现货

    发布时间: 2021-07-16  点击次数: 134次

    主要特性

    重复性:  ± 0.01
    操作简单:探测器采用电加热设计,无须加热样品,也不需要测量温度。
    快速测量:预热约30分钟,每1.5分钟测量一次发射率。
    价格实惠
     
    简要概述
    AE1/RD1发射率仪测量材料的总半球发射率,测量仪仅对辐射热传输响应,并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1发射率仪读数器,RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致,当AE1测量待测样品上时,RD1就能直接读出发射率。
    把该仪器放在高发射率标准体(近似黑体)上,设定RD1来表示发射率标准参数;然后仪器就会根据这个标准,计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。
    AE1测量样品最小直径为2.25英寸(5.7cm)。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头,能测量样品的最小直径为1.0英寸(2.54cm)。还可以定制探头,测量圆柱形表面和几乎任何几何形状表面。对于小直径圆柱形面样品的测量,可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头,请来电垂询价格!
    发射率通过两个步骤获取:
    1、把辐射计放在高发射率标准体上,设定RD1来表示发射率;
    2、把辐射计放在待测样品上并直接读出RD1上的发射率。
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